偏振相关损耗测量系统

产品描述

紫珊公司的偏振相关损耗（PDL）测量系统可精确地重复测量带尾纤的光无源器件，包括光纤阵列波导、可调衰减器、隔离器、耦合器、光开关及其他光设备。

应用

光无源器件测试
偏振相关损耗与波长相关性的测试
光纤光栅检验
EDFA偏振相关增益测量

特点

快速PDL测量（<1sec）
对外部功率漂移不敏感
低内部可变损耗（<0.003dB）
宽操作波长范围
高分辨率
静态测量分析
探头可换
彩色触摸屏图形界面
大PDL动态范围

参数